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XL-80激光干涉仪

XL-80系统快速、精确,而且非常轻便,因此它成为销量*好的激光校准系统丝毫不足为奇。XL-80采用先进的软件解决方案,具有优异的性能,可以帮助您显著提高企业效益。

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【测量原理】

激光干涉测量 :使用光的波长作为测量单位的基本原理在19世纪80年代左右开始提出。从那以后起,这一原理虽然历经发展和完善,但始终以测量光波干涉为依据,因此得名“干涉测量”。
激光系统射出的光波具有三种主要特性:
• 已知准确波长,可实现准确测量
• 波长非常短,可实现准确或高分辨率测量
• 所有光波相位相同,可根据已知的基准进行测量

干涉测量是一种相对运动测量(从初始位置开始测量),而不是一种jue对测量(从特定位置开始测量)。不同的光学镜组将激光光束穿过不同的路径,可从单个激光装置进行多种模式测量(例如,线性、角度、直线度)。
XL-80激光干涉仪--测量原理


XL-80激光干涉仪的主要特点

系统应用
机器验证
XL-80激光系统常见的用途是用来验证运动系统。通过测量机器性能,用户不仅对加工过程充满信心,还可提前发现加工件中存在的问题。
与激光跟踪系统不同的是,XL-80可直接在机器上单独测量几何误差。这样一来,用户对测量结果更有信心,并且能够发现误差。机器精度可通过以下途径提高:
• 对机器装配进行针对性改造
• 根据数据应用误差补偿
重复运行测试可验证所作的改进并展示机器改进后的功能。
XL-80激光干涉仪--机器验证


误差补偿
误差补偿可通过减少机器所示 位置和实际 位置之间的误差来提升机器的整体性能。大多数机床都会包含一些用于调整反向间隙和线性误差的选项。然而,功能更强大的机床控制器可提供在刀尖位置应用空间补偿的选项。空间补偿将考虑所有几何误差,包括线性误差。XL-80可用于将补偿值填入到补偿表中。
雷尼绍空间补偿软件将激光测量读数转换成补偿文件,然后可直接将其输入到特定的机床控制器中。
XL-80激光干涉仪--误差补偿


专业激光触发
当对线性测量采用“自动”采集功能时,系统会在机器移至一个被认为稳定的位置时测量位置误差。然而,一些应用需要激光系统在自定义的时间或在同步位置采集数据。XL-80激光系统可采用以下触发方式:
• 使用计算机鼠标或按键手动触发
• 编码器同步触发*
• 基于时间的触发
• 利用继电器通过机器的控制器进行触发
* 要求使用TB10触发器
XL-80激光干涉仪--专业激光触发


动态分析
了解系统的动态特性,例如加速度、速度、振动、停止时间、共振和减振,对于许多应用都非常重要。这些特性将影响系统的操作能力,例如位置精度、重复性、表面光洁度及磨损。
标准的XL-80激光干涉仪可以高达50 kHz的频率采集动态数据。QuickViewXL软件包简单易用,有直观的界面,能够记录、查看和保存动态数据。
XL-80激光干涉仪--动态分析


双轴
在一些设备中,机器的一个轴由两个驱动装置和两个反馈系统控制(如龙门铣床、车床和大型龙门型坐标测量机)。在这种情况下,两个激光装置与双轴软件结合使用,能够自动同步采集平行轴数据。
双轴测量软件为LaserXL软件的标准配置。
XL-80激光干涉仪--双轴测量


实验室应用
XL-80系统自从推出后便成为了许多实验室应用的*选系统,包括世界上许多著名的校准中心。它具有很稳定的激光频率、公开的误差范围、以及CIPM MRA*提供的完整溯源性,因此非常适合用作基准系统。同时,多种连接和触发选项使该系统更具灵活性,而且可轻松设计成为自定义装置。以往的应用包括固定式安装校准装置、步距规测量和激光频率校准装置。
* 雷尼绍的校准结果可溯源至CIPM MRA的签约者,CIPM MRA为全球提供了统一的测量标准。
XL-80激光干涉仪--实验室应用


特殊应用
我们很自豪能够帮助客户充分利用雷尼绍产品。如果您对定制产品或特别附件有特殊要求,请联系我们的专业销售人员,了解我们能够为您提供哪些帮助。
XL-80激光干涉仪--特殊应用

系统核心组件
XL-80激光器 XC-80补偿器和传感器 三脚架和云台 系统便携箱

XL-80激光器

XC-80补偿器和传感器

三脚架和云台

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